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样机制作案例之激光粒度分析仪

[日期:2010-01-13] [来源:http://www.pcbcool.cn/] [作者admin] [点击:]

   华创拥有国内最专业的反向技术研发团队,涉及近30个研发部门,专注于国内外各类电子产品和设备样机的复制(克隆)技术的研究,成功率超过99.9%,。从简单的单层PCB板,到复杂的28层以上设备的PCB抄板,华创无一不精通,在业界取得了一致好评,拥有众多的成功案例,而激光粒度分析仪是众多案例中的 一例,根据客户保密原则,现将部分技术参数透知于下:
激光粒度分析仪特点:
﹡ 测量范围:0.02μm-2,800μm; 测量精度:0.6%; 测量时间:10-30 秒; 所需样品量:0.05-2g;
兼容性:与任何常用有机溶剂兼容


﹡ 光源: 三束3mW 780nm固体二极管激光器, 电脑控制自动校准; 准直功能:电脑控制自动对光;
光路:固定光学平台,傅利叶光路结合双透镜技术
﹡ 接受角度:0.02-163°; 检测器:高灵敏硅光电二极管; 检测器数量:151个对数方式优化排列
﹡ 操作灵活:兼容 Windows 98, 2000, NT和XP等操作系统; 报告格式:体积,数量和面积分布,包
括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据以ODBC形式输出兼容其他统计分析软件和文字
S3500系列激光粒度分析仪处理软件; 安全性:数据的完整性符合21 CFR PART 11 安全要求
﹡ 环境要求:温度10-35℃; 相对湿度:小于90%; 电源要求:90-240 VAC, 5A, 50/60Hz; 主机
尺寸:高度33cm, 宽度55.9cm, 深度37.5cm, 重量25Kg
﹡ 标准化:符合ISO 13320-1 激光粒度分析国际标准
﹡ 完整配置:固定光学平台, 样品分散系统, 计算机/打印机, 数据处理软件

﹡ 专利Tri-Laser激光系统, 完全消除了不同波长光源对颗粒散射光分布“连接点”的影响和
多次米氏理论(Mie Theory)数学处理的误差(米氏理论处理与波长有关)。
﹡ 固定多元检测器与三激光光源的灵巧配置,无需扫描,同步接受全量程散射光信号,保证分
析结果的高重现性及全量程范围的高分辨率。
﹡ 首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因子,内置常用分析物质光学数据库,
S3500系列激光粒度分析仪提高颗粒粒度分布测试的准确性。
﹡ 系统自动对光,内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度。
﹡ 多种样品分散系统可供选择,各种分散系统之间的转换简单方便,结果稳定一致。
﹡ 现代模块式设计,可根据实际应用需要允许选择仪器的配置,以满足将来的任何需要。
﹡ 数据处理灵活方便,体积分布,数量分布和强度分布,微分与累计百分比以及其他综合报告
形式任意组合,数据存储兼容性强。
﹡ NIST(National Institute of Standards & Technology)标准物质指定认证仪器。
华创已通过反向工程掌握该产品的技术资料,并可提供该产品的的PCB设计、PCB抄板、芯片解密、样机制作、样机调试等方面的服务,满足客户的需求。同时,我们会根据市场需求的变化和产品的更新换代,提升该产品的功能升级和扩展,为广大客户提供定制化服务,我们期待与广大客户真诚合作,详情请咨询华创商务中心联系

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